基于改进YOLOv8s的PCB缺陷检测

罗青青, 舒升, 周正贵, 方银银

齐鲁工业大学学报 ›› 2025, Vol. 39 ›› Issue (5) : 38-44.

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齐鲁工业大学学报 ›› 2025, Vol. 39 ›› Issue (5) : 38-44. DOI: 10.16442/j.cnki.qlgydxxb.2025.05.005
机电与信息工程

基于改进YOLOv8s的PCB缺陷检测

    {{javascript:window.custom_author_cn_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_CN}}
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PCB defect detection based on improved YOLOv8s

    {{javascript:window.custom_author_en_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_EN}}
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{{article.keyPoints_cn}}

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{{article.keyPoints_en}}

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{{article.zhaiyao_cn}}

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{{article.zhaiyao_en}}

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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2025, 39(5): 38-44 https://doi.org/10.16442/j.cnki.qlgydxxb.2025.05.005
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2025, 39(5): 38-44 https://doi.org/10.16442/j.cnki.qlgydxxb.2025.05.005
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{{article.reference}}

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{{article.copyrightStatement_cn}}
{{article.copyrightLicense_cn}}
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